제품소개

3D Inspection

TVI SERIES

3D Inspection
개요
TVI Series는 3D Multi 공초점 측정방식을
|이용한 고정밀도/고속  In-Line Bump 검사장치입니다.
|(For individual substrates )

특징

1. In-Line Bump 검사장비로 개별상태의 Packaging 기판을 JEDEC Tray 안에 수납한 상태에서 검사를 실시. (소형 및 박막형 기판에 특화) 
2. TOKO TAKAOKA 독자적인  3D Multi 공초점 방식을 사용하여 고정밀도 및 고속 검사를 실현 . 
3. Round & Flatten 모양의 Bump  모두 측정가능.

SPEC

Main Inspection Item

Bump Height, Coplanarity, C4 Area Warpage

S10210

S10220

FOV(유효시야)

13 mm * 13 mm(11 mm * 15 mm, 15mm * 11mm)

Z Range

240μm

 240μm

XY Resolution

3.0μm

 2.1μm

Bump Diameter(Min.) & Bump Pitch

25μm / 55μm

 18μm / 36μm

Bump Pitch

3σAVE.+3σ3σ≦2μm

Dimension

(W)3,020mm×(D)2,245mm×(H)1,800mm