제품소개

3D Inspection

EVI SERIES

3D Inspection
개요
EVI Series는 3D Multi 공초점 측정방식을
|이용한 고정밀도/고속 In-Line Bump 검사장치입니다.
|(Vacuum Function , For Individual Substrate)

특징

1. In-Line Bump 검사장비로 차세대 기판(JEDEC) 지그를 사용 고정밀도 및 고속측정이 가능 . 
2. TOKO TAKAOKA 독자적인  3D Multi 공초점 방식을 사용하여 고정밀도 및 고속 검사를 실현 . 
3. Double-Shuttle System &  Z measurement range등의 신기술 채용

SPEC

Main Inspection Item

Bump Height, Coplanarity, Diameter

 S10210

 S10220

FOV(유효시야)

15 mm * 15 mm

 15 mm * 15 mm

Z Range

300μm

 300μm

XY Resolution

3.0μm

 2.1μm

Bump Diameter(Min.) & Bump Pitch

25μm / 55μm

 18μm / 36μm

Bump Pitch

3σAVE.+3σ3σ≦2μm

Dimension

(W)2,560mm×(D)2,715mm×(H)1,945mm